【大中小】本文來源：創想分析儀器
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發布日期：2019-8-9 10:44:49
本次新聞將與大家分享X熒光光譜儀波長分析原理常識，X熒光光譜儀根據色散的不同而分為兩大類，分別是能量色散型X射線熒光光譜 儀（ED-XRF）和波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）。
對于任意一種元素，其質量吸收系數隨著波長的變化有著一定數量的突變，當波長（或者說能量）變化到一定值時，吸收的性質發生了明顯變化，即發生突變，發生突變的波長稱為吸收限（或稱吸收邊），在各個吸收限之間，質量吸收系數隨波長的增大而增大。
對于X熒光分析技術來說，原級射線傳入樣品的過程中要發生衰減，樣品被激發后產生的熒光X射線在傳出樣品的過程中也要發生衰減，由于質量吸收系數的不同，使得元素強度并不是嚴格的與元素濃度成正比關系，而是存在一定程度的偏差。因而需要對此效應進行校正，才能準確的進行定量分析。
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X熒光光譜儀。
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